測(cè)試U盤(pán)壽命能用多久呢?很多小伙伴反應(yīng)自己的u盤(pán)購(gòu)買沒(méi)多久就壞掉了，也有的小伙伴生怕用久了，u盤(pán)磨損嚴(yán)重容易壞掉，種種情況都會(huì)給人帶來(lái)超級(jí)多的損失，所以今天快啟動(dòng)小編為大家介紹測(cè)試U盤(pán)壽命能用多久圖文教程，一起來(lái)看看吧。

　　閑的沒(méi)事用urwtest對(duì)一個(gè)臺(tái)電黑膠體U盤(pán)做了一次全掃，發(fā)現(xiàn)了有3處錯(cuò)誤。于是想下載量產(chǎn)工具對(duì)其進(jìn)行壞塊屏蔽(這個(gè)盤(pán)本來(lái)也沒(méi)用幾次，主要拿去打印店打印文檔的)，經(jīng)過(guò)這個(gè)U盤(pán)來(lái)測(cè)試一般TLC閃存的U盤(pán)壽命有多久;以下軟件都可以點(diǎn)名字去免費(fèi)下載到。

　　1. 討論Flash壽命測(cè)試方法

　　2. HD Tune壞塊檢測(cè)功能對(duì)于Flash產(chǎn)品不適用

　　3. 可使用Check Flash 檢測(cè)U盤(pán)邏輯儲(chǔ)存錯(cuò)誤以判斷U盤(pán)狀態(tài)

　　U盤(pán)用chipgenius檢查具體信息如下：

　　閃存精靈檢測(cè)結(jié)果如下：

　　8GB 閃迪 TLC 主控型號(hào)為：DM8261

　　量產(chǎn)圖

　　打開(kāi)量產(chǎn)工具發(fā)現(xiàn)該工具并不支持低格及壞塊掃描，于是判斷該主控可能不支持壞塊管理和磨損平衡，于是萌生了測(cè)試U盤(pán)壽命的想法。

　　1. 壽命測(cè)試

　　使用軟件Check Flash對(duì)U盤(pán)進(jìn)行寫(xiě)入校檢，測(cè)試邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤。由于該U盤(pán)不支持平衡磨損，遂將U盤(pán)格式化為Fat32，系統(tǒng)最大只能使用4GB作為測(cè)試空間。黑膠體U盤(pán)很容易發(fā)熱，所以采用水冷方式散熱，溫度保持在20℃。

　　歷經(jīng)一周多日日夜夜的連續(xù)測(cè)試，數(shù)據(jù)如下，其中，縱軸代表邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，橫軸代表寫(xiě)入次數(shù)。

　　可以看到，寫(xiě)入次數(shù)在120次之前，邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)較穩(wěn)定，當(dāng)寫(xiě)入次數(shù)在150次之后，邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)井噴式增長(zhǎng)，寫(xiě)入達(dá)到200次時(shí)，我終止了測(cè)試。這個(gè)盤(pán)能夠穩(wěn)定使用的寫(xiě)入周期已經(jīng)明了。。。

　　之前我曾使用同樣方法測(cè)試一款群聯(lián)主控U盤(pán)，在燒入鏡像后留出10MB空間用于測(cè)試，結(jié)果寫(xiě)入周期達(dá)到50000次時(shí)仍未發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤井噴式增長(zhǎng)。原因可能是由于主控支持磨損平衡，而我劃分的測(cè)試區(qū)域又小，不足以抵抗磨損平衡算法。

　　因此，測(cè)試Flash壽命的可靠方法有二：1)使用不支持磨損平衡的主控---貌似不多了 2)全盤(pán)寫(xiě)入校檢---用時(shí)長(zhǎng)

　　2. 在測(cè)試結(jié)束后，使用HD Tune掃描U盤(pán)壞塊：

　　你沒(méi)看錯(cuò)，全綠通過(guò)!而我將右邊圖形顯示方式改為速度圖后，結(jié)果完全變了。。。

　　從壞塊圖中我們無(wú)法看到經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試之后這個(gè)U盤(pán)有任何問(wèn)題，而其速度圖可以直觀的顯示出測(cè)試區(qū)(4GB)和未測(cè)試區(qū)(3.6GB)的速度差異!

　　主 要原因：經(jīng)過(guò)多次寫(xiě)入，該部分Flash已經(jīng)出現(xiàn)所謂壞塊，只不過(guò)HD Tune是以磁盤(pán)容量來(lái)劃分每個(gè)測(cè)試塊大小，當(dāng)壞塊個(gè)數(shù)(容量)低于某一個(gè)值時(shí)，整個(gè)HD測(cè)試塊并不會(huì)劃定為已經(jīng)損壞。但是在進(jìn)行讀寫(xiě)操作時(shí)，大量的 Flash壞塊會(huì)導(dǎo)致延遲增大，這也是為何HD Tune兩種圖差異明顯的原因。因此我認(rèn)為HD Tune或是相似原理的軟件不適合檢測(cè)U盤(pán)的健康狀態(tài)。

　　3. Check Flash 可以用來(lái)測(cè)試U盤(pán)健康狀態(tài)

　　之所以選用Check Flash 是因?yàn)樗�可以精確顯示每個(gè)扇區(qū)物理地址的錯(cuò)誤，例如TLC測(cè)試時(shí)，寫(xiě)入 010101 ，而校驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn) 000101，那么這就算一個(gè)錯(cuò)誤。雖然ECC可以修正這種錯(cuò)誤，但是存在這么一個(gè)不穩(wěn)定的扇區(qū)，相信大家也是會(huì)想辦法修正的吧。之前簡(jiǎn)單測(cè)試過(guò)，安國(guó)主控ECC2以內(nèi)，一個(gè)邏輯錯(cuò)誤都沒(méi)有，越大邏輯錯(cuò)誤越多。

　　到此，測(cè)試U盤(pán)壽命能用多久圖文教程就為大家分享結(jié)束了，我們可以借助u盤(pán)工具對(duì)u盤(pán)壽命進(jìn)行測(cè)試，大家要是不懂操作也沒(méi)關(guān)系，跟著以上操作就能快速了解u盤(pán)壽命，希望對(duì)大家有幫助哦。